一種掃描探針顯微鏡。該結構首次由Lieber等人於1994年發表，並在接觸模式原子力顯微鏡(AFM)配置(例如摩擦力顯微鏡)中用於獲取樣品表面形狀和摩擦力分佈的資訊 。
cfm掃描是什麼
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