ft測試是什麼

是一種針對電器元件進行通電試驗，以測試其是否可以正常工作的測試。

和ICT，飛針，AOI，X-Ray不同，FT測試非常直觀，能用就是能用，但不能用它也測試不出來問題所在。

FT測試，英文全稱Final Test，是芯片出廠前的最後一道攔截。測試對象是針對封裝好的chip，CP測試之後會進行封裝，封裝之後進行FT測試。可以用來檢測封裝廠的工藝水平。