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xrf檢測限值(LOD, limit of detection)又稱爲檢出限,指由基質空白所產生的儀器背景信號的3倍值的相應量,或者以基質空白產生的背景信號平均值加上3倍的均數標準差。
是方法(方法檢測限MDL)和儀器(儀器檢測限IDL)靈敏度體現的重要指標之一。
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